DB34/T3368.1-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第1 部分：铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法（完整版）
[环境影响评价报告 - 标准导则]
发表于：2022-02-19 17:47:39
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前言
本部分规定了 X 射线荧光光谱法快速筛选印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的方法原理、仪器设备、试剂、样品制备、分析步骤、筛选和报告。
本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选，其中所测定的铬、溴是指样品中的总铬、总溴。
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DB34/T 3368《印制电路板中有害物质分析方法》共 6 个部分：
——第1 部分：铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X 射线荧光光谱法；
——第2 部分：卤素（氯和溴）的测定 离子色谱法；
——第3 部分：多溴联苯及多溴二苯醚的测定 气相色谱-质谱法；
——第4 部分：铅和镉的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法；
——第5 部分：汞含量的测定 电感耦合等离子体光谱法；
——第6 部分：六价铬含量的测定 分光光度法。
本部分为第 1 部分。
本部分按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。
本部分由安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心提出。
本部分由安徽省有色金属标准化技术委员会负责归口。
本部分主要起草单位：安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心。
本部分参加起草单位：铜陵有色金属集团控股有限公司检测研究中心。
本部分主要起草人：臧真娟、周蕾玲、洪军、汪海、赵亮、龚昌合、黄薇薇。
附件
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